Strona: Wyposażenie laboratorium / Laboratorium Metrologii Współrzędnościowej Politechniki Rzeszowskiej

Wyposażenie laboratorium

  • Współrzędnościowa maszyna pomiarowa ACCURA II wyposażona w stykowe głowice pomiarowe VAST XT i VAST XXT, bezstykową głowicę pomiarową LineScan i stół obrotowy

- błąd graniczny dopuszczalny podczas pomiaru wymiaru 1.6+L/333 µm;
- zakres pomiarowy 900x1400x800;
- pomiary odchyłek wymiaru i odchyłek geometrycznych wyrobów;
- digitalizacja obiektów;
- pomiary wyrobów o regularnych kształtach geometrycznych;
- pomiary powierzchni krzywoliniowych przedmiotów.

01.jpeg

CMM ACCURA II posiada aktualne świadectwo wzorcowania.

swiadectwo_wzorcowania_cmm_accura_ii.png

  • Skaner GOM Scan 1

- wyposażony w dwie głowice pomiarowe;
- pomiary odchyłek wymiaru i odchyłek geometrycznych wyrobów;
- digitalizacja obiektów;
- pomiary wyrobów o regularnych kształtach geometrycznych;
- pomiary powierzchni krzywoliniowych przedmiotów.

img_2166.jpeg

img_2167.jpeg

  • Ramię pomiarowe MCA II wyposażone w stykową i bezstykową głowicę pomiarową

- pomiary odchyłek wymiaru i odchyłek geometrycznych wyrobów;
- digitalizacja obiektów;
- pomiary wyrobów o regularnych kształtach geometrycznych;
- pomiary powierzchni krzywoliniowych przedmiotów.

img_1186.jpeg

  • Mikroskop InfiniteFocus – Alicona

- pomiary topografii powierzchni (analiza 2D i 3D, analiza chropowatości powierzchni);
- digitalizacja i pomiary elementów o złożonej geometrii (np. narzędzi skrawających);
- pomiary geometrii krawędzi (w tym promienia zaokrąglenia);
- porównanie z geometrią nominalną;
- analiza objętości – powyżej/poniżej powierzchni odcięcia;
- analiza widoków 2D.

img_1174.jpeg

  • Mikroskop iNEXIV

- dodatkowo wyposażony w głowicę stykową;
- pomiary odchyłek wymiaru i odchyłek geometrycznych wyrobów 2D;
- digitalizacja obiektów 2D.

img_1179.jpeg

  • Okrągłościomierz MMQ 400

- pomiary odchyłek geometrycznych.

img_1169.jpeg

  • Profilometr XR 20

- pomiary chropowatości powierzchni;
- pomiary falistości powierzchni.

img_1170.jpeg

  • Konturograf XC 20

- pomiary odchyłek wymiaru i odchyłek geometrycznych.

img_1172.jpeg

Nasze serwisy używają informacji zapisanych w plikach cookies. Korzystając z serwisu wyrażasz zgodę na używanie plików cookies zgodnie z aktualnymi ustawieniami przeglądarki, które możesz zmienić w dowolnej chwili. Więcej informacji odnośnie plików cookies.

Akceptuję